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一、 光學(xué)系統(tǒng)校正
光學(xué)系統(tǒng)校正的目的是消除環(huán)境溫度造成的光學(xué)系統(tǒng)漂移與機械震動造成的機械位移。通常，在儀器安裝調(diào)試過程中首先要進(jìn)行光學(xué)系統(tǒng)校正；在儀器正常使用過程中根據(jù)環(huán)境溫度的條件適當(dāng)進(jìn)行光學(xué)系統(tǒng)校正。
二、 等離子體位置校正
等離子體位置校正的目的是將光源對準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)。通常在重新裝配進(jìn)樣系統(tǒng)后，點燃等離子體，用Mn溶液（10ug/mL）校正。
在等離子體位置校正過程中，值得注意的是：確保選中Mn 257.610波長、Mn溶液能夠正常進(jìn)入霧化器并形成氣溶膠進(jìn)入等離子體。如果上述條件沒有滿足，可能造成校正失敗。
三、 波長校正
在使用任何一個元素、任何一個波長進(jìn)行分析測量之前，都要做波長校正。波長校正的目的是：對事先存儲在譜線庫中的理論波長坐標(biāo)位置進(jìn)行修正、保證實際使用的波長坐標(biāo)位置準(zhǔn)確。
儀器安裝調(diào)試以后，波長校正不需要經(jīng)常做。如果實驗室溫度變化較大，應(yīng)適當(dāng)進(jìn)行波長校正。
建議波長校正使用單標(biāo)溶液，防止出現(xiàn)錯誤校正。
建議使用下列濃度的單標(biāo)溶液進(jìn)行波長校正：
元素 | 濃度（mg/L） | 元素 | 濃度（mg/L） |
As、Se、Sb | 50 | Ca、Mg、Sr | 10 |
Bi、Hg、Pb | 50 | Ba、Mn、Cr | 10 |
K、Na、S | 50 | Fe、Cu、Ti | 10 |
P、Al、Ni | 50 | ||
注：其他元素濃度20mg/L | |||
四、 校正曲線
ICP發(fā)射光譜儀屬于相對測量儀器。在樣品分析之前，首先要對標(biāo)準(zhǔn)溶液進(jìn)行測量，建立校正曲線（工作曲線、標(biāo)準(zhǔn)曲線），然后才能進(jìn)行樣品分析測量。
由于ICP儀器是多元素分析儀器，可以對多個元素同時測量；因此，最好使用多元素混合標(biāo)準(zhǔn)溶液完成校正曲線測量。
由于ICP儀器的線性范圍較寬，可以滿足許多樣品的測量濃度要求；因此，通常建立校正曲線的標(biāo)準(zhǔn)濃度點只需要三點即可：空白、濃度集中點和高標(biāo)；以高標(biāo)的濃度應(yīng)該覆蓋樣品的最高濃度為好。
由于測量結(jié)果與儀器工作條件相關(guān)，要求每次開機測量時都要首先測量標(biāo)準(zhǔn)，建立當(dāng)天的校正曲線，不能使用以前的校正曲線進(jìn)行樣品分析，否則會造成分析結(jié)果出現(xiàn)偏差。
